EASE公司晶圆探针台系列专为半导体晶圆级测试设计，具备高精度定位、稳定接触与自动化兼容特性，广泛应用于IC验证、失效分析及量产测试环节。该系列兼顾手动与全自动方案，以卓越的重复性和低噪声表现，助力提升测试效率与良率控制，是先进封装与化合物半导体测试的理想选择。

EASE公司存储器测试系统面向DRAM、NAND及新兴非易失存储器的晶圆级与成品级验证，集成高速时序分析、多工位并行测试与自适应算法，兼顾高吞吐与高精度，适用于研发表征、量产筛选及可靠性评估。

EASE公司集成电路测试系统（ATE）面向数字、模拟及混合信号器件的量产验证需求，具备高并行测试效率与纳秒级时序精度。系统支持多站点并发与宽温区测试，适用于SoC、MCU、电源管理及射频前端等场景，为封测产线提供稳定可靠的测试平台。

EASE公司探针卡系列专为晶圆级测试设计，覆盖逻辑、存储与功率器件。采用高精度微机电与陶瓷基板工艺，支持高密度引脚与高频信号传输，确保测试稳定性和良率。适用于研发验证与量产测试，是半导体测试接口的关键组件。

EASE公司分选机（Handler）系列面向半导体后道测试环节，融合高速拾放、精准温控与多站点并行测试能力，适配QFN、BGA、CSP等封装形式。设备支持高吞吐量与低误判率，广泛应用于IC成品测试、老化筛选及系统级测试，助力客户提升产线效率与测试可靠性。

EASE公司混合信号测试系统面向数模混合IC与SoC的量产与工程验证，集成高精度源测量单元与高速数字通道，兼顾模拟参数测试与逻辑功能验证。系统支持多站点并行测试，可显著提升测试吞吐率与资源利用率，广泛适用于消费电子、汽车电子及通信芯片的晶圆与成品测试场景。

EASE公司功率器件测试系统面向IGBT、MOSFET、SiC与GaN等功率半导体，覆盖静态参数、动态开关及雪崩耐量测试。系统具备高精度源测量、纳秒级时序控制与并行多工位能力，适用于器件研发验证、晶圆级测试与量产筛选，助力客户提升测试效率与数据一致性。

EASE公司测试程序开发软件面向半导体ATE测试领域，支持多平台程序转换与图形化开发，显著缩短测试开发周期，提升代码复用率与测试稳定性，适用于晶圆测试、成品测试及系统级测试等场景，助力封测厂与IDM优化测试成本。

EASE公司系统级测试设备（SLT）面向芯片量产验证与可靠性筛选，融合高并行测试架构与实时数据追溯能力，覆盖SoC、MCU、AI加速器等器件的系统级功能与性能评估。设备兼顾高吞吐与高精度，适配研发验证到大规模量产的全流程测试需求。