Compass Instruments探针台温控系统专为半导体晶圆级测试设计，覆盖-65°C至300°C宽温区，具备高精度温控与快速升降温能力，适配DC/RF及毫米波在片测试，是器件表征与可靠性验证的关键温控平台。

Compass公司探针卡系列专为晶圆级测试设计，采用先进微机电与薄膜工艺，实现高密度、低接触电阻的稳定信号传输。产品覆盖逻辑、存储、射频及功率器件测试，兼顾精度与寿命，助力提升良率与测试效率，是半导体前道测试的关键接口方案。

Compass Instruments半自动探针台兼顾手动灵活性与自动化效率，适用于晶圆级电性测试、失效分析及器件表征。其精密定位平台与稳定接触系统，可显著提升测试重复性与吞吐量，是研发与中小批量产线的高性价比选择。

Compass探针台软件与自动化控制系列，面向晶圆级测试与半导体参数分析，提供高精度运动控制、测试序列编排与数据管理。兼容主流探针台与测试仪表，支持半自动至全自动量产环境，助力提升测试效率与数据一致性。

Compass高功率探针台专为功率半导体晶圆级测试设计，支持高电压大电流条件下精准测量，具备优异的热管理与低漏电特性，适用于SiC、GaN及硅基功率器件的研发与量产验证，助力提升器件可靠性与良率。

Compass Instruments晶圆针测机专为半导体前道与后道测试设计，提供亚微米级定位精度与低噪声屏蔽环境，支持DC、RF及毫米波频段在片测试。其模块化架构兼容多品牌探针卡与分析仪，适用于器件建模、失效分析与量产验证，是提升良率与研发效率的关键设备。

Compass Instruments射频探针台专为高频与毫米波在片测试设计，覆盖DC至110GHz以上，具备低损耗传输、精准定位与稳定接触特性，适用于5G通信、卫星载荷、雷达芯片及先进封装器件的晶圆级S参数与噪声参数表征。

Compass Instruments全自动探针台面向晶圆级电性测试，集成高精度运动平台与智能视觉对针，支持多site并行与无人化量产。适用于逻辑、存储、功率及射频器件的WAT、CP与可靠性验证，以亚微米定位与低漏电屏蔽技术保障数据一致性，是先进制程与化合物半导体产线提效的关键设备。

Compass Instruments手动探针台专为半导体晶圆级电学测试设计，具备高精度微定位、低噪声屏蔽与稳定接触特性，适用于器件研发、失效分析与小批量验证。其模块化架构兼容多种探针座与显微镜，兼顾灵活性与重复性，是实验室与产线衔接环节的可靠选择。