NI公司（National Instruments，现属艾默生）的电子测试与自动化测试系统，基于模块化PXI平台与LabVIEW软件，提供高精度、高吞吐量的测试解决方案，广泛应用于半导体、汽车电子、航空航天等领域，助力工程师加速产品验证与量产测试。

NI数据采集设备（DAQ）以模块化架构与高精度同步测量见长，覆盖从便携式USB到PXIe机箱的完整平台，支持多通道模拟输入输出、数字IO与计数器，广泛用于汽车测试、半导体验证与科研实验，兼顾灵活性与工业级可靠性。

NI PXI模块化仪器平台基于PCI eXtensions for Instrumentation标准，融合高性能测量与灵活模块化架构，适用于半导体参数测试、射频验证及自动化生产测试。平台提供高通道密度、精确同步与低延迟吞吐，助力工程师缩短开发周期并提升测试可靠性。

NI CompactRIO是艾默生旗下基于FPGA与实时控制器的嵌入式测控平台，集成工业I/O、LabVIEW开发环境，适用于严苛环境下的高可靠监测与控制，广泛用于半导体、能源、交通等领域的快速原型与部署。

NI FlexRIO可重配置I/O模块基于FPGA架构，融合高速模拟与数字I/O及用户可编程逻辑，实现纳秒级实时处理与闭环控制。适用于雷达、通信、半导体测试等场景，兼具灵活性与确定性，是高性能原型验证与部署的理想选择。

NI公司（National Instruments，现属艾默生）工业物联网与状态监测设备，融合高精度数据采集、边缘计算与InsightCM软件，实现旋转机械振动、温度等参数实时监控与故障预警，助力预测性维护与资产优化。

NI（National Instruments，现属艾默生）示波器与数字化仪系列，覆盖从便携式USB示波器到PXIe模块化数字化仪，具备高带宽、高采样率与多通道同步能力，广泛应用于半导体测试、通信、汽车电子与科研领域，兼顾灵活软件定义与工业级可靠性。

NI公司LabVIEW系统设计软件，以图形化编程革新测试测量与控制系统开发。集成丰富硬件驱动与信号处理库，加速从原型到部署的全流程。适用于半导体验证、自动化产线及科研实验，显著提升工程效率与系统可靠性，是复杂测控应用的行业标杆。

NI（Emerson）源测量单元SMU系列集高精度源与测量于一体，支持四象限操作与皮安级电流分辨率，适用于半导体器件I-V特性、晶圆级可靠性与功率器件动态测试，以PXI模块化架构实现高通道密度与纳秒级时序同步，是实验室与产线精密参数测试的核心平台。