NI公司（National Instruments，现属艾默生）工业物联网与状态监测设备，融合高精度数据采集、边缘计算与InsightCM软件，实现旋转机械振动、温度等参数实时监控与故障预警，助力预测性维护与资产优化。

NI数据采集设备（DAQ）以模块化架构与高精度同步测量见长，覆盖从便携式USB到PXIe机箱的完整平台，支持多通道模拟输入输出、数字IO与计数器，广泛用于汽车测试、半导体验证与科研实验，兼顾灵活性与工业级可靠性。

NI FlexRIO可重配置I/O模块基于FPGA架构，融合高速模拟与数字I/O及用户可编程逻辑，实现纳秒级实时处理与闭环控制。适用于雷达、通信、半导体测试等场景，兼具灵活性与确定性，是高性能原型验证与部署的理想选择。

NI（National Instruments，现属艾默生旗下）信号发生器与射频仪器系列，涵盖矢量信号发生器、射频信号源及模块化射频测试平台，频率覆盖至毫米波频段，具备高精度调制与低相位噪声特性，广泛用于无线通信、雷达、半导体及航空航天测试场景。

NI公司（Emerson艾默生旗下）认证的第三方硬件与驱动，为测试测量系统提供经过严格验证的互操作性保障。该系列涵盖PXI、PXIe、C系列模块及配套驱动，确保与LabVIEW、TestStand等平台无缝集成，降低集成风险，缩短开发周期，适用于自动化测试、数据采集与实时控制等场景。

NI公司（National Instruments，现属艾默生集团）机器视觉与图像采集系统，整合高性能帧接收器、FPGA加速与同步采集技术，支持多相机、多接口（GigE Vision、USB3 Vision、Camera Link等）配置，适用于自动化检测、半导体量测与科研成像。以软件定义架构实现高吞吐、低延迟图像处理，助力智能制造与精密测试。

NI公司（National Instruments，现属艾默生）的电子测试与自动化测试系统，基于模块化PXI平台与LabVIEW软件，提供高精度、高吞吐量的测试解决方案，广泛应用于半导体、汽车电子、航空航天等领域，助力工程师加速产品验证与量产测试。

NI（Emerson）源测量单元SMU系列集高精度源与测量于一体，支持四象限操作与皮安级电流分辨率，适用于半导体器件I-V特性、晶圆级可靠性与功率器件动态测试，以PXI模块化架构实现高通道密度与纳秒级时序同步，是实验室与产线精密参数测试的核心平台。

NI CompactRIO是艾默生旗下基于FPGA与实时控制器的嵌入式测控平台，集成工业I/O、LabVIEW开发环境，适用于严苛环境下的高可靠监测与控制，广泛用于半导体、能源、交通等领域的快速原型与部署。